Mã HS: 90.12
Chưa thấy quy định đặc thù cho mã nàyDữ liệu hiện có không ghi thuế chống bán phá giá (AD), chính sách quản lý, thuế xuất khẩu hay thuế BVMT.
Biểu thuế toàn bộ nhóm 9012
| Mã HS | Mô tả hàng hóa | Thuế VAT | Thuế MFN | Đơn vị | |
|---|---|---|---|---|---|
| 9012.10.00 | - Kính hiển vi trừ kính hiển vi quang học; thiết bị nhiễu xạ | Thuế VAT8/10 | Thuế MFN0 | Đơn vịchiếc/bộ | |
| 9012.90.00 | - Bộ phận và phụ kiện | Thuế VAT8/10 | Thuế MFN0 | Đơn vịchiếc/bộ |
Hải quan Hàn Quốc — tham khảo, mã HSK khớp 6 số đầu (9)
| Mã HS | Tên hàng | Ngày văn bản | Số quyết định | Xem |
|---|---|---|---|---|
| 9012.10-1010 | Focused ion beam(HELIOS460HP) | 18/08/2015 | Item Classification 3-2236 | |
| 9012.10-1090 | ㅇ a-SEM (air-Scanning Electron Microscopy) | 27/07/2015 | Item Classification 3-2004 | |
| 9012.10-1090 | Scanning Electron Microscope; CX-200TA | 11/02/2014 | Item Classification 1-471 | |
| 9012.10-1090 | Dual Beam FIB/SEM ; NOVA200 ; USA | 26/01/2006 | Review Policy and-100030 | |
| 9012.10-1090 | Dual Beam FIB/SEM ; NOVA200 ; USA | 18/11/2005 | Product Classification Section-106006 | |
| 9012.10-1090, 9027.30-1000 | Laser Laman Spectrometer ; SERS-NANOFINDER 30 | 07/09/2004 | Product Classification Section-101430 | |
| 9012.90-1000 | Electron source; TFE gun; For eS25 | 02/07/2004 | Product Classification Section-100682 | |
| 9012.10-1090_x000D_ 9027.80-1000 | Scanning electron microscopes;JSM-6360A, EDS integration | 20/02/2003 | Item Classification 47281-150 | |
| 9012.10-1010 | Electron Beam Microscopes fitted with equipment specifically designed for handling and transport of semiconductor wafers or reticles LEO 1560 | 20/02/2003 | Item Classification 47281-150 |
Cần xác định mã / kiểm tra rủi ro cho mặt hàng này?
Chuyên viên UNI sẽ rà soát mã HS phù hợp và rủi ro thuế, chính sách quản lý cho mặt hàng của bạn.Dữ liệu biểu thuế cập nhật ngày 27/10/2026. Thông tin tham khảo, không thay cho ý kiến phân loại chính thức.
